「光學膜厚監控軟體」公開徵求技術移轉廠商公告
一、簡介
本光學膜厚監控軟體監控波長為 380 nm – 900 nm，監控週期為 0.3 – 0.8 秒，係屬於廣波域光學監控軟體，本軟體可預先評估每層鍍製行為，即時監控光學薄膜之厚度，進行自動鍍膜。同時記錄鍍膜過程中，廣波域光譜隨時間之變化。
二、技轉項目
本中心之光學膜厚監控軟體規格如下：
| 規格 | 可監控波長 | 380 nm – 900 nm |
| 波長解析度 | 1.02 nm | |
| 量測解析度 | 16 bit | |
| 積分時間 | 5 ms | |
| 穩定度 | +/− 0.25% pk-pk over 24 hrs @653nm | |
| 功能 | 光學監控週期 | 0.3 – 0.8 秒 (依照軟體負載與鍍膜階段自動調整監控週期) |
| 操作語言 | 中文 | |
| 資料庫 | Microsoft Office Access 或 Microsoft SQL Server | |
| 紀錄檔內容 |
| |
| 其他特點 |
|
三、相關圖示
圖一、程式介面圖
四、技術應用範圍
可應用於製作光學薄膜。
五、廠商資格
- 產業類別：半導體、光電及電子相關公司。
- 應具備之專門技術：具製造發展電子電路系統之生產線或技術、人力之國內外相關廠商。
- 96 年 11 月 7 日起至 11 月 30 日止受理申請，有意願之廠商需填妥本中心「技術移轉廠商意願書」及「技術移轉廠商開發計畫書」(請至本中心網站下載)，並檢附下列文件影本，以掛號方式郵寄至本中心統一窗口，作為評選會審查資料。
- 經濟部公司執照。
- 工廠登記證及營利事業登記證。
- 經會計師認證之最近三年之損益表及資產負債表。
- 營業稅或營利事業所得稅最近一期之繳款收據聯。
- 新設立廠商得檢附書面說明，減 (免) 繳交第 3、4 項文件。
六、聯絡窗口
- 真空技術組 / 張永欣先生 / TEL：03-5779911-228
- 企劃推廣組 / 江世元先生 / TEL：03-5779911-556、FAX：03-5798843
有關本中心技術移轉相關規定與資料請參見儀器技術移轉
